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Originalarbeiten in wissenschaftlichen Fachzeitschriften

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    • Dammann, Michael, Leuther, Arnulf, Quay, Rüdiger, Meng, M., Konstanzer, Helmer
      Reliability of 70 nm metamorphic HEMTs
      2004 Microelectronics reliability, Elsevier BV, Band: 44, Nummer: 6, Seite: 939-943

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    Buchbeiträge

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